高分辨场发射透射电子显微镜 (HR-TEM)

发布时间:2018-07-09  |  【打印】 【关闭

 

仪器名称:高分辨场发射透射电子显微镜 (HR-TEM)

仪器型号:JEM-2100F

仪器公司:JEOL

放置地点:环境化学楼A103

仪器管理员:耿方兰

性能:

点分辨率:0.19nm, 线分辨率:0.14nm 加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV 倾斜角::X=±25°,Y=±25° STEM分辨率:0.20nm 束流:0.5nA(束斑尺寸为1nm时); 放大倍数::×50~6,000 (LOW MAG 模式), 2,000~1,500,000 (MAG 模式),8,000~800,000(SA MAG 模式); 配备STEM附件、元素Mapping功能、CCD和能谱装置。 分析范围B5-U92

配置:

场发射透射电子显微镜是由主机(包括电子光源系统、磁透镜系统、光阑、二次电子探头和背散射电子探头等)、能谱系统、真空系统、计算机控制及显示系统、数字化传输系统,稳压电源和降压变压器等组成

用途:

JEM-2100F场发射透射电子显微镜将主要用于环境科学、生态毒理学和材料科学研究中所涉及的纳米材料、大分子和生物组织等的定性表征,即测定纳米材料、蛋白、腐殖酸、大分子、细胞和微生物的形貌和尺寸大小。

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